
目前,使用深度學(xué)習(xí)目標(biāo)檢測(cè)進(jìn)行工業(yè)缺陷檢測(cè)時(shí),主要有以下缺點(diǎn):
(1)缺陷未知性:由于缺陷的成像有位置、形狀、光源等影響因素在,不同因素會(huì)組合成各種各樣的缺陷,將使得AI目標(biāo)檢測(cè)算法學(xué)習(xí)起來(lái)變得異常困難。只能不斷增加已知的缺陷類別,如果將來(lái)出現(xiàn)未知類型的缺陷類別,設(shè)備將失去其該有的作用,可能會(huì)給生產(chǎn)方帶來(lái)?yè)p失。
(2)缺陷收集困難:缺陷數(shù)據(jù)集收集困難,人造或合成的缺陷與真實(shí)缺陷相差大,存在低質(zhì)量樣本數(shù)據(jù),數(shù)據(jù)收集周期較長(zhǎng),可能持續(xù)推遲設(shè)備的交付日期,這使得生產(chǎn)方將在人力成本上繼續(xù)投入,且項(xiàng)目前期誤檢漏檢情況出現(xiàn)頻繁,使得使用方對(duì)設(shè)備檢測(cè)能力的信心出現(xiàn)動(dòng)搖,這將違背深度學(xué)習(xí)在工業(yè)領(lǐng)域的初衷,為企業(yè)提供智能化、無(wú)人化的工廠,減小過(guò)程成本。
(3)低頻缺陷攔截困難:即使是已知且數(shù)據(jù)集充足類別的缺陷,也會(huì)出現(xiàn)與此種類別特征不相近的缺陷,可能出現(xiàn)漏檢情況

基于以上問(wèn)題點(diǎn),異常檢測(cè)算法應(yīng)用在工業(yè)質(zhì)檢行業(yè)的優(yōu)勢(shì)就涌現(xiàn)了出來(lái),因?yàn)闊o(wú)監(jiān)督算法的特性在,可以繞開目標(biāo)檢測(cè)算法在工業(yè)領(lǐng)域遇到的部分問(wèn)題。
異常檢測(cè)算法優(yōu)勢(shì):
(1)異常檢測(cè)是無(wú)監(jiān)督算法,不需要缺陷數(shù)據(jù)集,僅需要ok數(shù)據(jù)集即可,部分異常檢測(cè)算法僅需要少量ok數(shù)據(jù)集,避免了收集缺陷困難的問(wèn)題。
(2)不需要對(duì)各類別各形態(tài)缺陷進(jìn)行定性,避免了新類別或新特征不能檢出問(wèn)題,避免了難區(qū)分缺陷類別的認(rèn)定。

鑒于以上問(wèn)題,通過(guò)深度學(xué)習(xí)異常檢測(cè)算法,避免了低頻缺陷數(shù)據(jù)集收集困難,未知類別缺陷難攔截的問(wèn)題,并在缺陷數(shù)據(jù)集不足的情況下,能夠很好的解決檢出問(wèn)題。對(duì)于工業(yè)領(lǐng)域的零漏檢的高標(biāo)準(zhǔn)要求更進(jìn)一步。有效的減少了項(xiàng)目周期,更加快速的給企業(yè)帶來(lái)生產(chǎn)環(huán)節(jié)上的效益增長(zhǎng)。
異常檢測(cè):
異常是指偏離預(yù)期的事件或項(xiàng)目。與標(biāo)準(zhǔn)事件的頻率相比,異常事件的頻率較低。產(chǎn)品中可能出現(xiàn)的異常通常是隨機(jī)的,例如顏色或紋理的變化、劃痕、錯(cuò)位、缺件或比例錯(cuò)誤。
異常檢測(cè)(Anomaly Detection)也稱偏差(deviation)檢測(cè)或者離群點(diǎn)(outlier)檢測(cè),從數(shù)據(jù)的角度來(lái)看,其實(shí)就是檢測(cè)出和眾多其他觀測(cè)值差別非常大的一個(gè)特殊的觀測(cè)值。異常檢測(cè)在歷史上實(shí)際是數(shù)據(jù)預(yù)處理的一個(gè)步驟,但是在現(xiàn)代研究中越來(lái)越重要,逐漸發(fā)展為一個(gè)獨(dú)立的領(lǐng)域。
無(wú)監(jiān)督異常檢測(cè):
沒(méi)有標(biāo)簽情況下,往往目標(biāo)是將一個(gè)得分或標(biāo)號(hào)賦予給每個(gè)數(shù)據(jù)對(duì)象。比如聚類算法,根據(jù)一些規(guī)則將數(shù)據(jù)進(jìn)行無(wú)監(jiān)督的聚類。簡(jiǎn)單直白地講,如果聚類簇比較偏遠(yuǎn),或者密度比較少,可能就是異常。類似查找圖像離群點(diǎn)算法如孤立森林、SVM等。 但是基于檢測(cè)圖像中離群點(diǎn)是不穩(wěn)定的,由于零件本身形態(tài)特性復(fù)雜,很多時(shí)候不能區(qū)分開正常點(diǎn)與離群點(diǎn)。

以前基于深度學(xué)習(xí)的工作主要集中在生成算法,如生成對(duì)抗網(wǎng)絡(luò)(GAN)或變分自動(dòng)編碼器(VAEs) 。無(wú)監(jiān)督生成模型通過(guò)學(xué)習(xí)真實(shí)數(shù)據(jù)的本質(zhì)特征,刻畫出樣本數(shù)據(jù)的分布特征,生成與訓(xùn)練樣本相似的新數(shù)據(jù)。模型能夠發(fā)現(xiàn)并有效地內(nèi)化數(shù)據(jù)的本質(zhì),并生成這些數(shù)據(jù)。生成式模型可以用于在沒(méi)有目標(biāo)類標(biāo)簽信息的情況下捕捉觀測(cè)到可見(jiàn)數(shù)據(jù)的高階相關(guān)性。
如基于生成對(duì)抗網(wǎng)絡(luò)(GAN)或變分自動(dòng)編碼器(VAEs)的生成網(wǎng)絡(luò),在該網(wǎng)絡(luò)中,編碼器接受輸入數(shù)據(jù),并將其壓縮為潛伏空間表示,然后解碼器將從該空間重構(gòu)輸入數(shù)據(jù)。
VAE將圖像轉(zhuǎn)換為統(tǒng)計(jì)分布的參數(shù):均值和方差。然后,VAE使用均值和方差參數(shù)隨機(jī)采樣分布的一個(gè)元素,并將該元素解碼回原始輸入。該過(guò)程的隨機(jī)性提高了魯棒性并迫使?jié)撛诳臻g在任何地方編碼有意義的表示:在潛在空間中采樣的每個(gè)點(diǎn)被解碼為有效輸出。
隨著深度學(xué)習(xí)算法不斷進(jìn)軍工業(yè)界,服務(wù)于工業(yè)領(lǐng)域的AI算法也將更加成熟、穩(wěn)定,針對(duì)工業(yè)領(lǐng)域的算法與解決方案不斷的涌現(xiàn),其數(shù)據(jù)集也在不斷收集中,且出現(xiàn)了異常檢測(cè)算法評(píng)估數(shù)據(jù)集MVTec,在異常檢測(cè)算法頻繁刷榜MVTec后,相信在不久將來(lái)會(huì)廣泛應(yīng)用于工業(yè)領(lǐng)域。由于目標(biāo)檢測(cè)極其依賴缺陷數(shù)據(jù)集,異常檢測(cè)可能在某些情形下會(huì)替代目標(biāo)檢測(cè),或許兩者結(jié)合才是更佳的方案。